ReCo1：一种相关敏感随机设计的容错技术
新兴技术
2021-07-30 v1 计算机科学中的逻辑
摘要
在随机电路中，误差的主要来源是相关误差、软错误和随机波动误差，它们影响电路的精度与可靠性。软错误会改变相关状态，进而改变数值的概率，导致错误输出。这对需要高精度系统的安全与医疗系统有严重影响。我们通过引入相关敏感随机逻辑电路的容错技术来解决此问题。我们为随机逻辑元件（AND、XOR 和 OR）开发了重构相关（ReCo）框架以实现可靠运行。我们通过陈述两个有趣的案例研究，给出了组合电路中具有矛盾需求的两类 ReCo 模型变体。所提出的技术基于优先规则选择逻辑元件并放置校正块，有助于快速收敛到期望的 MSE 且需要更少的硬件面积。结果表明，该技术在整体上不改变电路的可靠性。为展示所提框架的实际有效性，研究了噪声环境下标准图像的对比度拉伸操作。与带误差图像（66.43）相比，所提方法输出图像的结构相似性指数度量高达 92.80。
引用
@article{arxiv.2107.13827,
title = {ReCo1: A Fault resilient technique of Correlation Sensitive Stochastic Designs},
author = {Shyamali Mitra and Sayantan Banerjee and Mrinal Kanti Naskar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.13827},
year = {2021}
}
备注
24 pages,20 figures, 2 tables, 3 algorithms