基于黄金比例扫描与RECAST3D的电子断层扫描中束敏感样品实时倾斜欠采样优化

电子断层扫描是一种广泛用于纳米材料三维结构分析的技术，但由于高电子剂量和长曝光时间，可能会对样品造成损伤。为尽量减少此类损伤，研究人员常通过倾斜欠采样获取更少投影来降低束曝光。然而，该方法也会因采样不足而引入重建伪影。因此，确定能在最小化束曝光与欠采样伪影之间取得平衡的最优投影数，对于束敏感样品的准确重建十分重要。当前确定该最优投影数的方法需获取并以不同投影数进行多次重建的后处理，耗时且因样品损伤需多个样品。为改进此过程，我们提出一种结合黄金比例扫描与准三维重建的协议，可在单次采集中实时估计最优投影数。该协议使用模拟与真实纳米颗粒进行验证，并成功应用于两种束敏感金属有机框架复合物的重建。