普适 qudit 门的随机基准测试

我们旨在建立一种可扩展的方案，用于对单量子比特及多量子比特系统中的对角非 Clifford 门进行特征化；其中 $d$ 为素数幂整数。通过采用循环算子和 qudit T 门，我们将二面体基准测试方案推广至单量子比特及多量子比特电路。我们的结果为实验基准测试 qudit 系统提供了一条路径，因为我们的方案在对非 Clifford 门进行特征化时是最优的，不需要准备完整的 qudit Clifford 门集合。此外，结合 Clifford 随机基准测试，我们的方案用于特征化普适门集的发生器。