可扩展的非Clifford门随机基准测试

随机基准测试是一种广泛用于表征量子操作平均误差的实验技术。可扩展以表征$n$量子比特电路的基准测试流程依赖于操纵这些电路的高效过程，因此一直局限于Clifford群的子群。然而，通用量子计算机需要额外的非Clifford门来逼近任意酉变换。我们定义了一种针对$n$量子比特酉矩阵的可扩展随机基准测试流程，这些酉矩阵对应于一类稳定子码的保护性非Clifford门。我们给出了表示和组合群元、均匀采样它们以及综合相应$\mathrm{poly}(n)$规模电路的高效方法。该流程提供了对两个独立参数的实验访问，它们共同表征群元的平均门保真度。