随机标记嵌套图形在多晶体材料变形双晶建模中的应用
数学物理
2025-07-22 v1 math.MP
摘要
随机几何提供了一种强大的框架,用于建模复杂随机结构,广泛应用于物理、材料科学、生物学等领域。多晶体材料的三维微结构通常由随机标记图形建模,标记对应晶体学取向。本研究旨在将建模方法扩展至更细尺度,聚焦于机械加载下暴露于 specimen 时出现的亚单元。具体而言,变形双晶导致嵌套图形,其中亚单元为平行双晶层及其补体嵌入原始母体单元中。本研究旨在开发标记嵌套图形的参数化数学模型并实现随机仿真。我们能够利用计算工具处理此模型。通过统计方法调查模型对选定关键参数的灵敏度。作为应用,提供变形双晶导致的应力与应变场的数值仿真,并评估亚单元在不同初始条件下对总应变能密度的贡献。本研究突显了随机几何在建模随微结构变化的现象方面的动态能力。
引用
@article{arxiv.2507.14405,
title = {Random marked nested tessellations applied to the modelling of deformation twinning in polycrystalline materials},
author = {Oleksandr Kornijčuk and Luděk Heller and Zbyněk Pawlas and Viktor Beneš},
journal= {arXiv preprint arXiv:2507.14405},
year = {2025}
}
备注
30 pages, 14 figures