利用微石墨背栅的双层石墨烯器件中的射频反射测量

双层石墨烯是一种极具吸引力的材料，能够实现具有可控带隙的高质量二维电子气。利用该带隙，可以对载流子进行电学栅极调控，且已有文献报道了量子点等纳米结构的形成。为了探测电子态动力学并实现量子比特器件的应用，能够进行高速电学测量的射频反射测量（RF-reflectometry）至关重要。在此，我们展示了双层石墨烯器件中的射频反射测量。我们利用微石墨背栅和未掺杂 Si 衬底来降低会降低射频反射测量性能的寄生电容。我们测量了包含双层石墨烯器件的槽式电路的谐振特性。我们搭建了射频反射测量系统，将结果与直流测量进行了比较，并证实了它们的一致性。我们还测量了可能由气泡形成的量子点的库仑钻石图，证实了可以对量子点进行射频反射测量。该技术能够实现双层石墨烯量子点的高速测量，并通过状态的快速读出为基于双层石墨烯的量子器件研究做出贡献。