准粒子中毒对拓扑 Josephson 结动力学的影响

分数 Josephson 效应仍是拓扑保护 Majorana 零模的决定性标志之一。我们分析了破坏宇称的准粒子中毒对拓扑 Josephson 结电流电压特性的影响。我们在过阻尼极限下，于短结与长结两种 regime 中，将中毒事件直接纳入电阻分流结 (RSJ) 模型。我们数值计算了电流电压特性，其中中毒通过 Fokker-Planck 方程中的附加速率或依赖于时间的宇称来建模，并将其与无中毒和强中毒速率的极限（我们解析求得）进行比较。将倾斜搓衣板势与中毒事件结合，我们表明长结极限的临界电流可用作结拓扑的探针，即便在高温中毒情形（弛豫与激发过程等概率发生）下亦然。利用倾斜搓衣板势模型，我们发展了三种不同的方案来测量中毒速率，从而也将考量扩展到两对螺旋边缘态，其中含有一个允许两对边缘态间隧穿的收缩区。