拓扑约瑟夫森结的特征信号

准粒子中毒和非绝热跃迁可能显著缩小实验观测拓扑约瑟夫森结所预测的$4\pi$-周期$dc$约瑟夫森效应的窗口。在此，我们表明开关电流测量为拓扑超导性提供了易于获取且稳健的特征信号，这些信号在准粒子中毒过程存在时依然持续。此类测量在将拓扑结与具有大临界电流的传统约瑟夫森结一起并入非对称SQUID中时，可获取该拓扑结的相位依赖亚隙谱和约瑟夫森电流。我们还论证，带有多个电流脉冲的泵浦-探测实验可用于测量拓扑结的准粒子中毒率。所提出的特征信号尤其稳健，即使在存在塞曼场和自旋轨道耦合时，当聚焦于短约瑟夫森结也是如此。最后，我们还考虑了短拓扑约瑟夫森结的微波激发，其可补充开关电流测量。