平庸与拓扑 Josephson 结中的准粒子中毒
超导电性
2022-06-08 v1
摘要
我们从理论上研究平庸相与拓扑相中超导体之间短单通道 Josephson 结。假设该结被小电流偏置并遭受准粒子中毒。我们发现准粒子的存在会导致 Josephson 结产生电压信号，该信号在平庸相与拓扑相中均可被观测到。颇为显著的是，这两种相中的电压特征差异足够明显，可作为清晰区分系统中平庸 Andreev 与拓扑 Majorana 束缚态的手段。此外，这些平庸相与拓扑相中的电压特征将允许直接测量准粒子中毒率，并检验各种针对准粒子中毒的防护方案。
引用
@article{arxiv.2112.05650,
title = {Quasiparticle poisoning in trivial and topological Josephson junctions},
author = {Aleksandr E. Svetogorov and Daniel Loss and Jelena Klinovaja},
journal= {arXiv preprint arXiv:2112.05650},
year = {2022}
}