II 型 Weyl 半金属 WTe$_2$ 表面态的准粒子干涉
强关联电子
2017-10-18 v2
摘要
拓扑 Weyl 半金属（TWS）是一种金属，其低能激发表现为高能物理中的 Weyl 费米子。最近研究表明，由于凝聚态系统对称性较低，它们可以实现两种不同类型的 Weyl 费米子。金属中的 I 型 Weyl 费米子由晶体动量空间——布里渊区（BZ）中某点处两个能带的线性交叉形成。第二类 TWS 具有 II 型 Weyl 点，出现在电子袋与空穴袋的接触点，这是倾斜线性色散的结果。II 型 TWS 被预测存在于多种化合物中，包括 WTe。迄今为止报道了若干关于 WTe 的 ARPES 研究，对所观测费米弧的拓扑性质得出了相互矛盾的结论。本工作中，我们报道了利用扫描隧道显微镜进行谱学成像以及第一性原理计算的结果，确立了 WTe 表面态清晰的准粒子干涉特征。我们的工作为表面态散射提供了有力证据。尽管表面费米弧被清晰观测到，仍难以证明块体中预测存在的 II 型 Weyl 点。
引用
@article{arxiv.1705.11189,
title = {Quasiparticle Interference of Surface States in Type-II Weyl Semimetal WTe$_2$},
author = {Wenhan Zhang and Quansheng Wu and Lunyong Zhang and Sang-Wook Cheong and Alexey A. Soluyanov and Weida Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.11189},
year = {2017}
}
备注
11 pages, 3 figures