I型和II型Weyl半金属表面的准粒子干涉：综述
介观与纳米尺度物理
2018-05-29 v1 材料科学
摘要
Weyl半金属是拓扑材料家族的新成员，其体相在节点附近具有一对单重简并、线性色散的Weyl锥，并在表面具有Fermi弧。根据体系守恒或破坏Lorentz对称性，Weyl半金属可分为两类。光电子能谱测量已分别确认TaAs类和WTe2类Weyl半金属为I型和II型。本综述旨在阐明并详述Weyl半金属的基本概念以及I型和II型Weyl半金属上的准粒子干涉实验。文中总结讨论了多方面的结果，这些结果揭示了：(1) 表面载流子的拓扑汇效应，即Fermi弧态的独特特征；(2) Fermi弧表面态的弱束缚性质；(3) 表面上依赖于轨道的散射通道；(4) 镜面对称性保护的表面Dirac锥。最后，对准粒子干涉技术在拓扑材料上未来应用的展望予以呈现。
引用
@article{arxiv.1805.10590,
title = {Quasiparticle interference on type-I and type-II Weyl semimetal surfaces: a review},
author = {Hao Zheng and M. Zahid Hasan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.10590},
year = {2018}
}