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基于 H-测度的形状记忆合金中分支微结构的刚性定量研究

偏微分方程分析 2018-01-08 v1

摘要

我们利用 Tartar 的 H-测度,在几何线性化理论中量化了经历立方到四方相变的形状记忆合金中分支微结构的刚性。主要结果是对孪晶特征函数的一个 B1,2/3B^{2/3}_{1,\infty} 估计,这启发式地表明较大尺度的界面可聚集在 Hausdorff 维数为 3233-\frac{2}{3} 的集合上。我们提供了表明该维数最优的证据。此外,我们得到了在习惯面附近极限能量密度爆破行为的本质局部下界。

关键词

引用

@article{arxiv.1801.01338,
  title  = {Quantitative aspects of the rigidity of branching microstructures in shape memory alloys via H-measures},
  author = {Thilo M. Simon},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1801.01338},
  year   = {2018}
}

备注

30 pages, 1 figure