纳米棒阵列结构完整性的量化
材料科学
2017-03-24 v1
摘要
垂直于支撑物排列的纳米棒阵列可通过自上而下光刻或形状限定硬模板制备，作为传感器组件、纳米光子学与纳米电子学组件、组织工程基底、具有特定黏附或抗黏附性质的表面以及具有定制润湿性的表面，受到了越来越多的关注。纳米棒的团聚会降低基于纳米棒阵列组件的性能。大量文献探讨了纳米棒的机械失效机制和机械稳定纳米棒阵列的设计标准。然而，纳米棒阵列的结构完整性通常仅通过视觉定性评估。我们使用显微图像的实空间分析来量化纳米棒阵列中凝结纳米棒的比例。我们建议将显微照片中可见的阵列元素数量除以无缺陷阵列在相同面积下应包含的阵列元素数量（称为完整性分数），作为阵列结构完整性的度量。引入了确定成像阵列元素数量的可重复程序。因此，可以对不同的纳米棒阵列，或同一纳米棒阵列在不同使用阶段进行定量比较。示例性地分析了仅在纳米棒长度上有所不同的相同纳米棒阵列的结构完整性。
引用
@article{arxiv.1703.07864,
title = {Quantifying the structural integrity of nanorod arrays},
author = {Florian Thöle and Longjian Xue and Claudia Heß and Reinald Hillebrand and Stanislav N. Gorb and Martin Steinhart},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.07864},
year = {2017}
}