表面一维纳米结构排列的自动量化
仪器与探测器
2016-08-03 v1 材料科学
计算机视觉与模式识别
摘要
本文提出了一种从显微成像中自动量化一维纳米结构排列的方法。我们制定了纳米结构排列度量，并证明其能够严格量化二维域（表面）内纳米结构的取向有序度。此外，还提出了一种互补的图像处理方法，能够对存在重叠纳米结构的显微图像进行稳健处理。利用所提出的方法分析了覆盖纳米线的表面的扫描电子显微镜 (SEM) 图像，结果表明，过去的单参数排列度量不足以描述高度有序的域。通过使用多参数排列度量，实现了对 SEM 图像的自动定量分析，并能够利用相似性度量严格比较不同样品的排列特征。本工作的结果为纳米科学和纳米技术领域的研究人员提供了一种严格的方法，用于确定在一维纳米结构排列至关重要的情况下的结构 - 性能关系。
引用
@article{arxiv.1607.07297,
title = {Automated quantification of one-dimensional nanostructure alignment on surfaces},
author = {Jianjin Dong and Irene A. Goldthorpe and Nasser Mohieddin Abukhdeir},
journal= {arXiv preprint arXiv:1607.07297},
year = {2016}
}
备注
14 pages, 6 figures, submitted to Nanotechnology