量子比特对层析成像中的乘积测量与全对称测量：一项数值研究
量子物理
2015-05-13 v1
摘要
量子比特对的状态层析成像通常通过分别测量两个量子比特来进行，而人们预期使用高度对称的联合测量两个量子比特的方法能获得更高的效率。我们对模拟实验的数值研究并不支持这种预期。
引用
@article{arxiv.0907.4258,
title = {Product measurements and fully symmetric measurements in qubit-pair tomography: A numerical study},
author = {Yong Siah Teo and Huangjun Zhu and Berthold-Georg Englert},
journal= {arXiv preprint arXiv:0907.4258},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 1 figure, 1 table