通过弱测量和投影测量估计量子态

我们探讨了利用“弱”测量进行量子态层析的可能性。给定一定数量的相同制备的单量子比特态拷贝，我们模拟了使用弱测量以及投影测量的态层析过程。由于测量后态会发生坍缩，我们无法在投影测量后重复使用该态。如果使量子系统与测量装置之间的耦合强度变弱，则可以降低对态的扰动。这使得我们能够对系综中的同一成员进行进一步测量，从而从系统中提取更多信息。然而，这是以牺牲首次测量获取信息的精度为代价的。我们对单量子比特模拟了该方案，并表明在某些情况下，其性能可以优于基于投影测量的层析方案。这开辟了从量子系综中提取信息的新途径。我们研究了该方案在不同耦合强度下的有效性。