单量子比特系统量子态层析中弱测量与投影测量的比较
量子物理
2017-11-15 v2 应用物理
摘要
我们探索将弱量子测量用于单量子比特量子态层析过程。弱测量是指量子比特与测量装置之间耦合较弱的测量；这导致量子态受到的扰动小于投影测量的情况。我们采用Das和Arvind提出的弱测量层析协议，他们声称该协议提供了一种从量子系统中提取信息的新方法。我们在不同测量强度和系综大小下测试Das-Arvind方案，并使用序贯随机模拟复现了他们的结果。最后，我们将这些结果置于当前对弱测量与投影测量的理解背景下。
引用
@article{arxiv.1711.03645,
title = {Comparing weak and projective measurements for quantum state tomography of a single-qubit system},
author = {Shoumik Chowdhury},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.03645},
year = {2017}
}
备注
10 pages, typos corrected. Ref. 33 citations updated from "Caves et. al. [33]" to "Gross et. al. [33]"