低维 TiOCl 中压力诱导的绝缘体-金属转变
强关联电子
2012-06-05 v1
摘要
我们研究了低维 Mott-Hubbard 绝缘体 TiOCl 在红外和可见光频率范围内透射率和反射率随压力的变化。在 12 GPa 以上，透射率的强烈抑制和近红外反射率的突然增加表明存在压力诱导的绝缘体-金属转变。我们给出了轨道激发的压力相关频移，以及相变以上电荷隙和光导谱权重的压力依赖性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0603376,
title = {Pressure-induced insulator-to-metal transition in low-dimensional TiOCl},
author = {C. A. Kuntscher and S. Frank and A. Pashkin and M. Hoinkis and M. Klemm and M. Sing and S. Horn and R. Claessen},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0603376},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 6 figures