点缺陷对萘拉曼光谱的影响
光学
2007-05-23 v1 原子与分子团簇
摘要
所进行的 C10H8 小频率拉曼光效应谱的偏振检测揭示了低强度附加线的存在。晶格振荡谱直方图的计算由 Dyne 法完成。表明 C10H8 结构中的空位导致在 90 cm-1 附近出现附加线。低于 30 cm-1 频率处线的出现归因于分子取向无序的存在。显然，C10H8 结构兼具两类缺陷，即分子取向无序与空位，这导致小频率谱中附加线的出现。
引用
@article{arxiv.physics/0507167,
title = {Point Defects Influence on the Raman Spectrum of the Naphthalene},
author = {M. A. Korshunov},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0507167},
year = {2007}
}