MgB_2 点接触光谱：从基础物理到薄膜表征
超导电性
2009-11-10 v1
摘要
本文强调了在类似 MgB_2 的多间隙超导体中使用点接触光谱 (PCS) 的优势，既作为基础研究工具，也作为优化薄膜特性的无损诊断技术。 我们首先介绍了一些关键基础研究成果，这些成果通过 MgB_2 单晶的方向性 PCS获得，例如间隙温度依赖性和临界场的影响，以及磁场对间隙�幅的影响。 然后，我们展示了 PCS 如何为 MgB_2 薄膜表面特性（例如 Tc、间隙�幅、是否为洁净极限或脏化极限条件）提供有用信息，以便为制造用于超导电子器件的隧道和约舍夫结做优化。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0309545,
title = {Point-Contact Spectroscopy in MgB_2: from Fundamental Physics to Thin-Film Characterization},
author = {R. S. Gonnelli and D. Daghero and A. Calzolari and G. A. Ummarino and V. Dellarocca and V. A. Stepanov and S. M. Kazakov and J. Karpinski and C. Portesi and E. Monticone and V. Ferrando and C. Ferdeghini},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0309545},
year = {2009}
}
备注
11 pages, 7 figures; Proceedings of 6th EUCAS Conference (14-18 September 2003, Sorrento - Italy)