基于相关性测量确定像素化探测器的像素同时探测概率与空间分辨率

提出了一种估算像素化探测器的像素同时探测概率和空间分辨率的新方法，该方法基于对探测器相邻像素间统计相关性的测定。相关性是通过测量孤立像素的噪声方差以及相邻像素间的差异来确定的。该方法利用来自两台不同 GE Senographe 2000D 乳腺 X 光机的图像进行了验证。像素化探测器在其整个表面接受了 X 射线照射。结果表明，像素同时探测概率的估算精度在 0.001 - 0.003 之间，系统误差估计小于 0.005。预采样二维点扩散函数 (PSF0) 是使用单高斯近似和双高斯求和近似确定的。预采样 PSF0 的获得结果表明，单高斯近似并不合适，而提供最佳拟合的双高斯求和近似预测存在一个较大的（约 50%）窄分量。A. Badano 等人最近对柱状间接数字探测器的模拟研究也证明了这一事实。采样二维 PSF 是通过蒙特卡洛模拟确定的，针对不同的填充因子采用了 L 形均匀分布接受函数。利用采样 PSF 估算的探测器空间分辨率对于两台不同设备分别为 54 和 58 微米。基于 PSF0 估算的预采样调制传递函数计算表明，现有数据只能使用单高斯近似进行复现，而使用双高斯求和则在高频区域对两台设备均显示出显著更大的值。