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弱引力透镜中的像素化效应

天体物理学 2009-11-13 v1

摘要

弱引力透镜是探测暗物质和暗能量的有前景的方法,需要准确测量遥远星系的形状。由于典型相机的有限分辨率和像素尺度,这类测量受到阻碍。另一方面,由于制造商受限于固定的像素数量和运行寿命,观测面积随像素尺寸而增加。我们以提出的SuperNova/Acceleration Probe为例,利用其完整的工程模型和观测策略,研究这种权衡中像素尺度的最佳选择。我们的 метод是模拟已知剪切率的真实天文图像,并评估在所导出暗物质功率谱的背景下,使用Rhodes、Refregier和Groth算法准确恢复剪切率的源密度。除了考虑单次曝光外,我们还检讨了亚像素抽样的效益。尽管某些结果取决于所采用的形状测量方法,但涉及已解决星系源密度的相对趋势是稳健的。我们的ethods为从分析原理考虑像素化效应的研究提供了实际的对应物,这些研究必然假设理想化的形状测量方法。在我们发现,统计误差在像素尺寸等于点扩散函数(FWHM)的75-80%时最小,且在较大像素尺度下,抽样略有益处。

关键词

引用

@article{arxiv.astro-ph/0703471,
  title  = {Pixelation Effects in Weak Lensing},
  author = {F. William High and Jason Rhodes and Richard Massey and Richard Ellis},
  journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0703471},
  year   = {2009}
}

备注

17 pages, 12 figures, submitted for publication to PASP