专利叠加映射：可视化技术距离
物理与社会
2015-03-13 v3 数据分析、统计与概率
摘要
本文提出了一种新的全球专利地图，涵盖所有技术类别，并提供了一种将单个组织和技术领域的专利数据定位到全球地图上的方法。这种叠加地图技术可支持竞争情报和政策决策。全球专利地图基于 2000 年至 2006 年欧洲专利局（EPO）专利的国际专利分类（IPC）类别之间的引用与被引用关系的相似性。该专利数据集提取自 PATSTAT 数据库，包含 466 个基于 IPC 的类别中的 760,000 条专利记录。我们将由此分类得出的全球专利地图与其他全球专利地图的相关工作进行了比较。本文在两家公司和两个不同的纳米技术子领域的纳米技术相关专利活动上叠加了全球专利地图。该练习展示了专利叠加地图在可视化技术领域方面的潜力及其对决策支持的可能作用。此外，本研究表明，基于引用与被引用模式彼此相似的 IPC 类别（因此在全球专利地图中距离较近）不一定属于同一层级 IPC 分支，从而揭示了被 IPC 方案归类为属于不同（有时甚至相距甚远）主题领域的技术之间的新关系。
引用
@article{arxiv.1208.4380,
title = {Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance},
author = {Luciano Kay and Nils Newman and Jan Youtie and Alan L. Porter and Ismael Rafols},
journal= {arXiv preprint arXiv:1208.4380},
year = {2015}
}
备注
Accepted in October 2013 in Journal of the American Society for Information Science and Technology