非均匀再电离对宇宙微波背景的斑块状屏蔽
宇宙学与河外天体物理
2013-10-08 v1
摘要
我们利用 WMAP-7 温度/偏振数据中的非对角 TB 和 TT 关联，推导出了非均匀再电离对宇宙微波背景斑块状屏蔽的约束。我们将此解释为对均方根光深涨落 作为相干多重极 函数的约束。我们将这些参数与现象学模型中的共动相干尺度（即气泡大小 ）联系起来，该模型中再电离是瞬时的但发生在皱褶表面上；同时也将其与“瑞士奶酪”再电离模型中的气泡大小联系起来，该模型中固定大小的气泡分布在一定的红移范围内。当前的 WMAP 数据仍然太弱，相差几个数量级，无法约束合理的模型，但即将到来的 Planck 数据和未来的 EPIC 数据应能开始触及参数空间中有趣的区域。我们还给出了 EDGES 实验最近结果对参数空间施加的约束。
引用
@article{arxiv.1210.5507,
title = {Patchy Screening of the Cosmic Microwave Background by Inhomogeneous Reionization},
author = {Vera Gluscevic and Marc Kamionkowski and Duncan Hanson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.5507},
year = {2013}
}
备注
4 pages, 5 figures; to be submitted to PRD