大尺度上的再电离 II:通过宇宙微波背景的互相关探测斑块状再电离
宇宙学与河外天体物理
2015-06-12 v2
摘要
我们研究了斑块状再电离对宇宙微波背景(CMB)温度的影响。各向异性的光深 会改变小尺度()上的 TT 功率谱。我们利用物质密度场与再电离红移场之间的相关性,构建了 的全天图。斑块状再电离将 CMB 功率从大尺度转移到小尺度,导致大角尺度与小角尺度之间产生非零的互相关。我们表明,斑块状 相关器对我们图中看到的小均方根值 非常敏感。我们包含了其他次级各向异性,如 CMB 透镜效应、动力学和热 Sunyaev-Zel'dovich 项,以及红外和点源背景,并表明斑块状再电离可能在低频通道(约 90 GHz)中被探测到,特别是对于延展的再电离历史。如果可以通过多频率分析最小化频率依赖的次级效应,我们表明即使是微小的斑块度也能以高显著性被探测到。在这种情况下,我们表明即使平均光深 相同,具有不同 值的模型也是可区分的。因此,斑块状 相关器提供了互补于从偏振和动力学 Sunyaev-Zel'dovich 功率谱中可能获得的信息。
引用
@article{arxiv.1211.2822,
title = {Reionization on Large Scales II: Detecting Patchy Reionization through Cross Correlation of the Cosmic Microwave Background},
author = {Aravind Natarajan and Nick Battaglia and Hy Trac and Ue Li Pen and Abraham Loeb},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.2822},
year = {2015}
}
备注
Main conclusions unchanged. Published in Astrophysical Journal. Replaced to reflect the published version