用于短截线匹配射频反射测量法的样品芯片设计优化
介观与纳米尺度物理
2012-10-12 v1
摘要
研究了一种带有原位可调变容二极管的射频匹配电路，用于半导体纳米结构中的射频反射测量，并用于优化特定样品的芯片设计。样品集成在一个2-4 GHz的短截线匹配电路中，该电路由一个与终端共面波导并联的波导短截线组成。比较了在GaAs/AlGaAs异质结构上制造的具有不同芯片设计的几个量子点接触。我们表明，通过合适的电极几何形状，对于量子点接触电导的固定变化，反射系数的变化可以比传统设计增强3倍。
引用
@article{arxiv.1206.1785,
title = {Optimization of sample-chip design for stub-matched radio-frequency reflectometry measurements},
author = {S. Hellmüller and M. Pikulski and T. Müller and B. Küng and G. Puebla-Hellmann and A. Wallraff and M. Beck and K. Ensslin and T. Ihn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.1785},
year = {2012}
}