基于含相依分量的双变量Gamma过程的加速退化试验优化设计
应用统计
2021-06-28 v1
摘要
加速退化试验（ADT）是可靠性工程中的主要方法之一，可在相对较短时间内准确估计高可靠系统的可靠性特征。试验数据通过物理合理的统计模型外推，以得到正常使用条件下寿命分位数的估计。Gamma过程是退化的自然模型，其表现出单调且严格递增的退化路径。本文针对具有双响应分量的ADT推导了最优试验设计。我们考虑了边际响应独立与相依的情形，并假定观测时间固定且已知。边际退化路径假定服从Gamma过程，并利用copula函数表达两分量间的依赖性。对于独立响应分量情形，最优设计最小化正常使用条件下失效时间分布估计分位数的渐近方差。对于相依响应分量情形，采用-准则推导-最优设计。此外，当基于copula的模型退化为双变量二元结果时，发展了-和-最优设计。
引用
@article{arxiv.2106.13540,
title = {Optimal Accelerated Degradation Testing Based on Bivariate Gamma Process with Dependent Components},
author = {Helmi Shat and Norbert Gaffke},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.13540},
year = {2021}
}