超高载流子密度下双层石墨烯的光学声子异常
材料科学
2013-03-26 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
本文通过第一性原理计算，研究了不同掺杂水平下双层石墨烯（BLG）中的电子-声子耦合（EPC）。所考虑的声子为长波长高能对称（S）和反对称（AS）光学模。研究表明，两者均表现出依赖于费米能级 的、由EPC引起的独特声子线宽和频率位移。我们发现，当费米能级 接近中性点以上约0.5 eV时，AS模与最低的两个导带发生强耦合，产生巨大的线宽（超过100 cm）和显著的频率软化（ 60 cm）。我们的\emph{从头计算}表明，这一剧烈变化的根源在于BLG中不寻常的能带结构。这些结果突显了在高载流子密度区域，能带结构对BLG中EPC的影响。
引用
@article{arxiv.1204.1584,
title = {Optical Phonon Anomaly in Bilayer Graphene with Ultrahigh Carrier Densities},
author = {Jia-An Yan and K. Varga and M. Y. Chou},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.1584},
year = {2013}
}
备注
5 pages, 4 figures