关于有序V-BLAST的中断概率和误码率分析
信息论
2016-11-17 v1 math.IT
摘要
针对独立同分布瑞利衰落信道，评估了发射天线数大于2的有序BLAST的中断概率和误码率性能。推导了任意信噪比下第一步中断概率的多个下界和上界，这些界进一步用于获得平均分组错误率和总误码率的精确近似。对于m根发射天线，第一步最优排序的效果是m倍的信噪比增益。当m趋于无穷时，分组错误率趋于零，这体现了V-BLAST中的时空自编码效应。虽然次优排序(基于投影前信噪比)相比最优排序有数dB的信噪比损失，但其计算复杂度较低，且相比无序V-BLAST有3dB的信噪比增益，因此对于低复杂度/低能耗系统而言是一种有吸引力的方案。未编码的D-BLAST表现出与V-BLAST相同的中断概率和误码率性能。还评估了线性接收机接口相比BLAST的信噪比损失。
引用
@article{arxiv.0810.2323,
title = {On Outage and Error Rate Analysis of the Ordered V-BLAST},
author = {Sergey Loyka and Francois Gagnon},
journal= {arXiv preprint arXiv:0810.2323},
year = {2016}
}
备注
accepted by IEEE Transactions on Wireless Communications