基于法布里-珀罗标准具的仪器 II. 各向异性（双折射）情形

晶体标准具在磁像仪中相较其他类型滤光器具有若干优势，尤其是仅通过施加电场即可调谐。然而，各向异性晶体标准具也会引入不期望的双折射效应，破坏入射光的偏振。特别地，单轴 Fabry-Pérot 标准具（如 LiNbO3 标准具）在斜光束照明时具有双折射性。入射偏离法线越远，两正交偏振态间诱导的延迟越大。高电压的应用以及制造缺陷也会改变晶体光轴方向，即使在正入射下也引入双折射。本文推导了位于准直与远心两种配置中的单轴标准具的诱导延迟与 Mueller 矩阵解析表达式。我们还评估了远心情形下 Z 切晶体标准具随入射角、光轴取向以及入射光束 f 数的偏振特性。我们研究了两种配置下输出 Stokes 矢量中产生的人工信号。最后，我们讨论了标准具在准直与远心两种装置中成像响应的偏振依赖性。