台阶边缘密度变化对薄膜生长动力学影响的实验观测
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们通过脉冲激光沉积在SrTiO3 [001]上生长SrTiO3，同时观察(0 0 .5)位置的X射线衍射。激光脉冲后X射线强度的下降dI包含了关于羽流-表面相互作用的信息。运动学理论预测dI/I = -4sigma(1-sigma)，因此dI/I仅取决于沉积材料的量sigma。相反，我们在实验中观察到|dI/I| < 4sigma(1-sigma)，且dI/I取决于X射线生长振荡的相位。综合结果表明，存在一种依赖于表面台阶边缘密度的快速平滑机制。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0408704,
title = {Observed Effects of a Changing Step-Edge Density on Thin-Film Growth Dynamics},
author = {Aaron Fleet and Darren Dale and Y. Suzuki and J. D. Brock},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0408704},
year = {2007}
}
备注
4 figures