由高电流密度诱导的 YBa2Cu3O7-d 熔融纹理样品和薄膜的正常-超导相变：相似性与差异
超导电性
2009-11-10 v1
摘要
presented 正常-超导相变诱导的 YBa2Cu3O7-d 熔融纹理样品和薄膜的电流-电压特性。样品取自厘米尺寸的单体。薄膜特征也测量于 dc 溅射生长的薄膜上图案化的微桥。对于这两类样品，都观察到在电流密度 J* 远高于临界电流密度 Jc 时出现准连续或熄灭现象。尽管薄膜和 Bulk 在 Jc 和 J* 的大小上有很大差异，但提出了熄灭现象的一种常见固有起源。对 J*/Jc 比率特有的温度依赖性，以及以单一耗散模型解释熄灭前期的解释，都支持我们的提议。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0305020,
title = {Normal-superconducting transition induced by high current densities in YBa2Cu3O7-d melt-textured samples and thin films: Similarities and differences},
author = {M. T. Gonzalez and J. Vina and S. R. Curras and J. A. Veira and J. Maza and F. Vidal},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0305020},
year = {2009}
}
备注
10 pages, 10 figures, submitted to Physical Review B