高电流密度下超导薄膜热不稳定性的解析方法
超导电性
2012-02-15 v1
摘要
利用三维热方程的 Green 函数，我们建立了解析模型以描述在无外加磁场情况下，承受超过其临界电流的电流时超导薄膜的热行为。我们的模型假设薄膜和电流密度具有均匀性，除热系数外，还采用了通过在恒定浴温下拟合实验电场 - 电流密度特性获得的参数。我们推导出了一个易于处理的动态方程，用于描述薄膜直至超临界电流密度（即引发向正常态转变的最低电流密度）的真实温度，并得出了一个热稳定性判据以预测。对于两种典型的 YBCO 薄膜，的预测值与观测值的偏差在 5% 以内。这些发现有力地支持了以下假设：电流诱导的热不稳定性通常是高电流密度下超导性破坏的根源，至少在温度不太远离时是这样。
引用
@article{arxiv.1202.3010,
title = {An analytical approach to the thermal instability of superconducting films under high current densities},
author = {Jesús Maza and Gonzalo Ferro and Manuel Rodríguez Osorio and José A. Veira and Félix Vidal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.3010},
year = {2012}
}
备注
10 pages, 12 figures. arXiv:submit/0416830