氖中超短X射线脉冲下的常规俄歇过程
原子物理
2018-01-11 v1 量子物理
摘要
现代X射线源能够产生相干X射线脉冲，其脉冲持续时间与原子和分子的核心空穴态的特征寿命处于同一量级。这些脉冲能够在俄歇衰变过程中操控核心空穴布居，从而改变电子谱的线形。在本工作中，我们提出一个理论模型来研究氖中的这些效应。我们辨识出俄歇-光电子符合谱中由脉冲持续时间和强度引起的效应。在对所有光电子能量积分后的俄歇电子谱中，常规俄歇线形得以恢复。
引用
@article{arxiv.1801.03409,
title = {Normal Auger processes with ultrashort x-ray pulses in Neon},
author = {Raymond Sullivan and Junteng Jia and Alvaro Vazquez-Mayagoitia and Antonio Picón},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.03409},
year = {2018}
}