准经典弹道点接触中的非线性输运与噪声测温
介观与纳米尺度物理
2014-10-21 v2
摘要
我们研究了在 GaAs 中定义的低密度高质量二维电子系统内的准经典点接触 (PCs) 中的非线性输运和非平衡电流噪声。在点接触两端施加不太高的偏置电压 时，噪声温度由焦耳热功率决定，几乎与点接触电阻无关，这可归因于电子系统的自热效应。这种普遍接受的情景在 增加时被打破，此时我们观察到额外的噪声，伴随着点接触微分电阻的急剧下降。额外噪声的谱密度大致与点接触中的非线性电流贡献成正比，即 ，其中有效 Fano 因子 ，表明涉及随机散射过程。研究发现，小的垂直磁场会同时抑制 和 。我们的观测结果与一种概念一致，即准经典 PCs 引线中由电子 - 电子散射介导的类拖曳机制导致了非线性输运。
引用
@article{arxiv.1406.2481,
title = {Nonlinear transport and noise thermometry in quasi-classical ballistic point contacts},
author = {E. S. Tikhonov and M. Yu. Melnikov and D. V. Shovkun and L. Sorba and G. Biasiol and V. S. Khrapai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1406.2481},
year = {2014}
}
备注
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