计算固体电解质中带电缺陷自由能的新方法
材料科学
2015-06-16 v1
摘要
本文介绍了一种计算带电缺陷对离子晶体构型自由能贡献的方法。将与温度无关的 Wang-Landau 蒙特卡洛技术应用于一个简单的固体电解质模型，该模型由晶格上的带正电和负电缺陷组成。在具有周期性边界条件的晶格上计算静电能，并用于计算该系统的态密度和统计热力学势。作为缺陷浓度和温度函数的自由能，在缺陷浓度高达 10% 的范围内可由正规溶液模型准确描述，这远超理想溶液理论适用的范围。该方法辅以能量中的短程项，被提出作为替代那些需要在一系列温度下进行多次模拟的自由能计算方法的选择。
引用
@article{arxiv.1305.5416,
title = {New Methods for Calculating the Free Energy of Charged Defects in Solid Electrolytes},
author = {Robert M. Horton and Andrew J. Haslam and Amparo Galindo and George Jackson and Michael W. Finnis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.5416},
year = {2015}
}