基于任意子编织的负超额散粒噪声

通过两个分数量子霍尔边缘之间的量子点接触（QPC）处的自相关散粒噪声，已经探测到了任意子分数电荷 $e^*$。我们发现自相关噪声也能显示阿贝尔任意子分数统计的指纹。我们预测了在分数电荷探测装置的 QPC 处，当任意子从由电压偏置的附加边缘稀疏地注入到处于平衡态的装置中时，电隧穿电流 $I$ 的噪声。在高电压下，非平衡噪声被{\it 降低}至热平衡噪声以下，降低值为 $2 e^* I$。这种负超额噪声与常规分数电荷探测的正超额噪声 $2e^* I$ 以及电流常见的正自相关噪声相反。这是阿贝尔分数统计的标志，源于在 QPC 处热激发的任意子与从附加边缘注入的另一个任意子之间的有效编织。