具有随机选通管失效的阻变存储器中数据与潜通路干扰的近最优检测
信息论
2021-01-26 v1 math.IT
摘要
阻性随机存取存储器是下一代非易失性存储器技术最有希望的候选者之一。然而，其交叉阵列结构会导致严重的“潜通路”干扰，这也引起了强烈的单元间相关性。近期的工作主要通过忽略单元间相关性并将潜通路干扰视为独立噪声，来关注次优的数据检测方案。我们提出了一种近最优的数据检测方案，能够逼近最优检测方案的性能界。我们的检测方案利用了数据与潜通路干扰的联合恢复，并可以使用所有的单元间相关性。该方案适用于具有仅线性运算复杂度的大型存储器阵列的数据检测。
引用
@article{arxiv.2101.09680,
title = {Near-Optimal Detection for Both Data and Sneak-Path Interference in Resistive Memories with Random Cell Selector Failures},
author = {Guanghui Song and Kui Cai and Ce Sun and Xingwei Zhong and Jun Cheng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.09680},
year = {2021}
}