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材料性质的近场微波显微镜

材料科学 2007-05-23 v2 超导电性

摘要

近场微波显微镜为材料电动力学实验开辟了新的类目。摆脱传统微波光学的限制,实验可在较高的空间分辨率下进行,且覆盖宽广的频率范围。此外,测量过程可量化,从而可制作微波材料性质的图像。我们综述了五种主要类型的近场微波显微镜,并详述我们自己的显微镜形式。 presented and discussed. 量化图像表明,微波薄膜电阻、介电常数和介电调制性均已实现。也讨论了近场测量微波电动力学性质的未来前景。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0001075,
  title  = {Near-Field Microwave Microscopy of Materials Properties},
  author = {Steven M. Anlage and D. E. Steinhauer and B. J. Feenstra and C. P. Vlahacos and F. C. Wellstood},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0001075},
  year   = {2007}
}

备注

31 pages, 9 figures, lecture given at the 1999 NATO ASI on Microwave Superconductivity Changes suggested by editor, including full references