微波近场成像进展：原型、系统与应用

近场微波成像系统试图通过测量物体周围多个位置处的散射场来揭示物体的存在和/或电特性分布。过去几十年中，近场微波成像系统技术的硬件与软件组件均引起了全球范围内的兴趣。由于硬件技术的限制（数据采集装置不可用），实验性微波成像对先驱者而言非常具有挑战性。然而，可能由于硬件成本原因，大多数研究（工作于几GHz）仍仅聚焦于软件。利用微波方法对各类物体成像的可行性已在多种应用中通过仿真得到测试与验证。此外，为改善仿真重建结果，已在定性与定量算法方面开展工作。如今，受益于硬件进步及其成本降低，研究者渴望进行真实实验验证而非仿真，并且已为各种应用构建了更多独特的原型与商业系统。这些原型与系统源于多年的专注工作，回顾所开发原型系统的进展十分重要。本文将概述全球不同研究小组为近场微波成像应用所设计的众多系统，并进一步勾勒当前微波近场成像面临的挑战、工程师与科学家的发展趋势以及未来展望。