Sr$_{0.1}$Bi$_2$Se$_3$超导转变过程中的多模态同步辐射X射线衍射
超导电性
2022-07-28 v1
摘要
在掺杂拓扑绝缘体SrBiSe中，尽管观测到的空间群具有三重对称性，却在超导转变温度 3 K以下观察到电子性质中显著的面内二重对称性。二重对称轴名义上固定于三个旋转等价方向之一，且已提出晶格应变是该钉扎现象的起源。我们对SrBiSe单晶进行了多模态同步辐射衍射与电阻测量，温度低至0.68 K、磁场高达45 kG，以探测超导对面内晶格畸变的影响。我们的结果表明，与超导转变相关的面内晶格畸变在量级上不存在。这些结果进一步支持如下模型：SrBiSr超导性质的大面内二重各向异性并非结构起源，而是电子起源，即由Eu对称性的向列超导序参量所引起。
引用
@article{arxiv.2207.13221,
title = {Multimodal synchrotron X-ray diffraction across the superconducting transition of Sr$_{0.1}$Bi$_2$Se$_3$},
author = {M. P. Smylie and Z. Islam and G. D. Gu and J. Schneeloch and R. D. Zhong and S. Rosenkranz and W. -K. Kwok and U. Welp},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.13221},
year = {2022}
}
备注
7 pages, 6 figures