利用软 X 射线驻波角分辨光电子能谱研究埋藏界面的动量分辨电子结构
材料科学
2015-06-17 v1
摘要
角分辨光电子能谱 (ARPES) 是研究电子结构的有力技术，但缺乏直接研究两种材料间埋藏界面的能力。我们通过将 ARPES 与软 X 射线驻波 (SW) 激发相结合 (SWARPES) 来解决这一限制，其中 SW 剖面可扫描穿过样品深度。我们研究了原型磁性隧道结 La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3 中的埋藏界面。来自 La0.7Sr0.3MnO3 中心类体区及类界面区的 Mn 3d eg 和 t2g 态的深度与动量分辨图谱表现出明显不同的行为，这与界面处 Mn 成键的变化一致。我们将实验结果与最先进的密度泛函理论和一步光发射理论进行了比较，令人鼓舞的一致性表明该技术具有广泛的未来应用前景。
引用
@article{arxiv.1309.2022,
title = {Momentum-resolved electronic structure at a buried interface from soft x-ray standing-wave angle-resolved photoemission},
author = {A. X. Gray and J. Minár and L. Plucinski and M. Huijben and A. Bostwick and E. Rotenberg and S. -H. Yang and J. Braun and A. Winkelmann and G. Conti and D. Eiteneer and A. Rattanachata and A. A. Greer and J. Ciston and C. Ophus and G. Rijnders and D. H. A. Blank and D. Doennig and R. Pentcheva and C. M. Schneider and H. Ebert and C. S. Fadley},
journal= {arXiv preprint arXiv:1309.2022},
year = {2015}
}
备注
18 pages, 4 figures and Supplementary Information