角分辨光电子能谱及其在拓扑材料中的应用
材料科学
2021-06-21 v1
摘要
角分辨光电子能谱（ARPES）是一种基于光电效应的实验技术，可以说是探测固体电子结构最有力的方法。过去十年见证了ARPES的显著进展，包括软X射线ARPES、时间分辨ARPES、自旋分辨ARPES和空间分辨ARPES的快速发展，以及能量和动量分辨率的相当大提升。因此，ARPES已成为拓扑材料研究中不可或缺的实探针，拓扑材料具有可被ARPES直接探测的特征性非平凡体态和表面态电子结构。过去几年中，ARPES在拓扑材料的若干标志性发现中发挥了关键作用，包括拓扑绝缘体以及拓扑狄拉克和 Weyl半金属的发现。在本技术综述中，我们评估不同ARPES技术的最新进展，并通过在拓扑材料研究中的应用展示这些技术的能力。
引用
@article{arxiv.2106.09797,
title = {Angle-resolved photoemission spectroscopy and its application to topological materials},
author = {Baiqing Lv and Tian Qian and Hong Ding},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.09797},
year = {2021}
}