用于分析角分辨光电子能谱数据中散射率和重整化函数的二维拟合方法
强关联电子
2022-02-04 v2 超导电性
摘要
本文提出并详细描述一种用于分析角分辨光电子能谱（ARPES）散射率的新方法。该方法考虑了实验仪器分辨率和有限温度效应。与标准常用方法相比，可获得更精确的结果。我们以新量子材料中常见的若干实例演示了该方法的运用。其在强关联电子体系的研究中尤为有用。
引用
@article{arxiv.2104.10545,
title = {About two-dimensional fits for the analysis of the scattering rates and renormalization functions from angle-resolved photoelectron spectroscopy data},
author = {R. Kurleto and J. Fink},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.10545},
year = {2022}
}
备注
12 pages, 6 figures