Fe(Te,Se) 薄膜与底层 CaF$_2$ 之间化学反应的微观分析

A. Ichinose; I. Tsukada; M. Hanawa; Seiki Komiya; T. Akiike; F. Nabeshima; Y. Imai; A. Maeda

doi:10.1088/0953-2048/26/7/075002

Fe(Te,Se) 薄膜与底层 CaF$_2$ 之间化学反应的微观分析

超导电性 2015-06-11 v1

作者: A. Ichinose , I. Tsukada , M. Hanawa , Seiki Komiya , T. Akiike , F. Nabeshima , Y. Imai , A. Maeda

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摘要

为了理解材料界面处的化学反应，我们对制备在不同类型衬底上的四种 Fe(Te,Se) 超导薄膜进行了透射电子显微镜 (TEM) 观察：CaF2 衬底、带 CaF2 缓冲层的 CaF2 衬底、带 FeSe 缓冲层的 CaF2 衬底，以及带 CaF2 缓冲层的 LaAlO3 衬底。基于能量色散 X 射线谱仪 (EDX) 分析，我们发现了氟和硒之间可能的相互扩散，这对 Fe(Te,Se) 薄膜的超导性有强烈影响。化学相互扩散在晶格参数的变化中也起着重要作用。Fe(Te,Se) 薄膜的晶格参数主要由阴离子的化学取代决定，而晶格失配仅起次要作用。

关键词

fe(te,se) 薄膜化学反应透射电子显微镜相互扩散超导性晶格参数

引用

@article{arxiv.1208.3287,
  title  = {Microscopic analysis of the chemical reaction between Fe(Te,Se) thin films and underlying CaF$_2$},
  author = {A. Ichinose and I. Tsukada and M. Hanawa and Seiki Komiya and T. Akiike and F. Nabeshima and Y. Imai and A. Maeda},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1208.3287},
  year   = {2015}
}

备注

30 pages, 9 figure

Fe(Te,Se) 薄膜与底层 CaF$_2$ 之间化学反应的微观分析

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