利用磁引力陷阱测量中子寿命

自由中子寿命 $\tau_n$ 的精密测量，若与轴矢量形状因子的测量相结合，可用于检验 CKM 矩阵的幺正性。非幺正性是超出标准模型(BSM)物理的信号。对 BSM 物理的灵敏度要求将 $\tau_n$ 测量到 0.1~s 的精度。然而，测量 $\tau_n$ 的两种主要技术（俗称束流法与瓶法测量）结果相差近 10~s。UCN$\tau$ 是一项使用磁引力陷阱和原位中子探测器的中子寿命实验。该陷阱中的中子不会像以往的瓶法测量那样因材料壁而损失。此外，原位探测器可对俘获的超冷中子进行能谱监测。在本次报告中，我将展示我们最新的结果——$\tau_n=877.7\pm0.7_\text{(stat.)}+0.4/-0.2_\text{(sys.)}$~s。我还将展示实验中系统效应的蒙特卡洛模拟，包括加热与能谱净化。