利用质子陷阱测量中子寿命
核实验
2008-11-26 v1
摘要
我们报告了通过绝对计数束内中子及其衰变质子对中子衰变寿命的新测量。质子被限制在准 Penning 陷阱中，并用硅探测器计数。中子束注量通过已知绝对效率的薄 6LiF 箔探测器中的俘获来测量。这些同时测量的组合给出了中子寿命：tau_n = 886.8 +/- 1.2[统计] +/- 3.2[系统] 秒。系统不确定性主要由 6LiF 沉积物质量和 6Li(n,t) 截面的不确定性主导。这是迄今为止使用束内方法对中子寿命最精确的测量。
引用
@article{arxiv.nucl-ex/0311006,
title = {Measurement of the Neutron Lifetime Using a Proton Trap},
author = {M. S. Dewey and D. M. Gilliam and J. S. Nico and F. E. Wietfeldt and X. Fei and W. M. Snow and G. L. Greene and J. Pauwels and R. Eykens and A. Lamberty and J. Van Gestel},
journal= {arXiv preprint arXiv:nucl-ex/0311006},
year = {2008}
}
备注
5 pages, 4 figures