aCORN实验对中子衰变电子-反中微子角关联的测量

aCORN实验采用一种基于质子飞行时间不对称性的新方法测量中子衰变电子-反中微子关联($a$系数)，该不对称性出现在β电子与反冲质子被延迟符合探测的事件中。我们报告了在美国国家标准与技术研究院中子研究中心(NIST Center for Neutron Research)第二次运行的数据分析与结果，该次运行使用了新NG-C中子导引端位置上的高注量冷中子束：$a = -0.10758 \pm 0.00136 (\mbox{stat}) \pm 0.00148 (\mbox{sys})$。该结果在不确定度范围内与第一次aCORN运行在NG-6冷中子束上的结果一致。结合两次aCORN运行，我们得到 $a = -0.10782 \pm 0.00124 (\mbox{stat}) \pm 0.00133 (\mbox{sys})$，其总体相对标准不确定度为1.7%。对应的弱耦合常数之比 $\lambda = G_A/G_V$ 的结果为 $\lambda = -1.2796\pm 0.0062$。