p型点接触锗探测器中死层厚度的测量
仪器与探测器
2016-10-25 v1 高能物理 - 实验
摘要
一个质量为 994g 的 p型 PCGe 探测器被中国暗物质实验 (China Dark matter EXperiment) 的第一阶段部署，旨在直接搜寻轻的弱相互作用大质量粒子。测量 p型锗探测器死层厚度是一个至关重要的问题，因为它决定了探测器的可信质量。本工作报道了一种使用非准直 133Ba 源来确定死层厚度的方法。描述了实验设计、数据分析与蒙特卡洛模拟过程，以及统计和系统误差。通过实验数据与模拟结果之间的一致，推导出死层厚度为 1.02 mm。
引用
@article{arxiv.1601.04305,
title = {Measurement of the dead layer thickness in a p-type point contact germanium detector},
author = {H. Jiang and Q. Yue and Y. L. Li and K. J. Kang and Y. J. Li and J. Li and S. T. Lin and S. K. Liu and H. Ma and J. L. Ma and J. Su and H. T. Wong and L. T. Yang and W. Zhao and Z. Zeng},
journal= {arXiv preprint arXiv:1601.04305},
year = {2016}
}
备注
7 pages, 9 figures