使用无模拟方法修正触发偏倚的 $B^-$ 寿命测量
高能物理 - 实验
2011-02-28 v2
摘要
由于存在基于径迹碰撞参数选择事件的触发机制，CDF II 探测器能够收集大量衰变至强子末态的 强子。然而，触发选择要求的性质在观测到的衰变时间分布中引入了显著偏倚。寿命测量必须修正这一偏倚，传统方法采用蒙特卡罗模拟。传统方法中系统不确定性的主要来源是数据与蒙特卡罗模拟之间的差异。本文提出一种无需模拟的解析偏倚修正方法，从而消除了数据与模拟之间的任何不确定性。该方法通过 衰变模式测量 寿命的形式呈现。 寿命测量结果为 ps，其中第一项为统计不确定度，第二项为系统不确定度。与使用模拟修正触发偏倚的方法相比，这种新方法得到的系统不确定度更小。
引用
@article{arxiv.1004.4855,
title = {Measurement of the $B^-$ lifetime using a simulation free approach for trigger bias correction},
author = {The CDF Collaboration and T. Aaltonen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1004.4855},
year = {2011}
}
备注
submitted to Phys. Rev. D. Revision to the published version